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[材料测试] 武汉大学物理科学与技术学院场发射扫描电子显微镜

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发表于 2017-5-3 09:49:28 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
仪器编号*420103012559
仪器分类编码*03040702
所在单位内仪器编号  03012559
仪器中文名称*场发射扫描电子显微镜
仪器英文名称 Field Emisston Gun Scanning Electron Microscope System
仪器型号规格*SIRION 200
主要技术指标*
•SEM技术指标
–高稳定In-House Schottky 场发射电子枪(需24小时开机维护)
–加速电压:200V~30kV
–二次电子分辨率(SEI): 1.5nm
–背散射电子分辨率(BEI): 6.0 nm;
•X射线能谱仪(EDS)
–元素分析范围:B5~U92
–能量分辨率:优于132eV
•电子背散射衍射分析(EBSD)
–晶体取向分辨率 > 1°
–分辨晶体尺寸 ≥ 0.5μm
主要附件及功能
  对各种材料进行表面形态图像观察,微结构和微区成分分析;测定微小晶粒的晶体结构、晶体取向、相鉴定、微应变测量以及织构测量,给出极图与反极图并作出取向分布函数。对图象进行数字化采集、记录、处理与分析
仪器认证情况*
生产厂商*荷兰FEI
产地国别*荷兰
仪器原值*
启用日期*2003.11
所在单位名称*武汉大学物理科学与技术学院
实验室名称 纳米中心
仪器安放地址*纳米中心
邮政编码*430070
仪器联系人*傅 强
电话*02762935262
电子邮件fuqiang@whu.edu.cn
开放机时安排*
每周一至周五全天
参考收费标准*
按机时数:形貌250元/小时;EDS/EBSD350元/小时


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